日本 C-MAX QEC Cubic 多角度試樣觀察臺

一、日本 C-MAX QEC Cubic 多角度試樣觀察臺 產品基礎信息

二、核心規格參數

三、產品核心特點

1.多角度觀測，省去復雜制樣流程

直接傾斜工件觀察側壁、斷面，無需樹脂鑲嵌、剖切打磨，大幅縮短抽檢耗時，適配產線快速質檢。

2.精密微調適配高倍顯微成像

微調旋鈕進給細膩，鎖緊牢靠，拍照錄像時試樣不會偏移，保障微觀圖像質量。

3.適配多種試樣

可更換夾具夾持薄片、圓柱、異形小件，適配電子、陶瓷、醫療各類零部件檢測。

4.改造便捷

兼容現有顯微鏡，低成本拓展多角度觀測能力。

四、適用行業場景

• 半導體電子：焊點側面潤濕、裂紋檢測；

• 表面處理：電鍍、電解加工邊緣微觀檢視；

• 材料研發：斷裂斷面金相分析。

五、日本 C-MAX QEC Cubic 多角度試樣觀察臺 安裝使用注意事項

1. 易碎件控制夾持力度；高倍率下調速輕柔，防止試樣磕碰物鏡；定期清潔傳動結構；

2. 閑置時加蓋防塵罩保護精密絲桿。