真彩共聚焦顯微鏡

新型Axio CSM 700真彩色共聚焦掃描顯微鏡主要用于材料科學的研究，品質檢測和常規檢查等，可對樣品進行無接觸分析、地形圖測量，采集速度為170幀/秒。操作軟件簡單便捷，可進行粗糙度、厚度和顆粒度分析等。

產品應用：

1 粗糙度分析

對于材料表面的特性檢測，Axio CSM 700 可為用戶提供一個功能全面的非接觸式光學三維表面形貌測量儀。高敏感度的光強探測功能，的共聚焦成像，測量結果精確。樣品高度的連續測量和創新的軟件計算系統保證在無震動的環境條件下獲得的高度信息（測量范圍可從2nm—毫米級）。

Axio CSM 700 顯微鏡可測量粗糙度并快速產生高度的輪廓圖。基于高分辨率和彩色顯微鏡成像，用戶可以決定測量哪個位置的高度以及獲得什么樣的高度輪廓圖，這樣試樣表面被損壞的、沒有代表性的區域可以被精確遮蓋或用輪廓線代表。另外，3D粗糙度參數計算執行DIN EN ISO 4287標準，可進行表面的分析以獲得3D特征，如潤滑槽的體積。測量結果可同時顯示曲線圖和振幅密度能用不到1分鐘的時間內就可完成二維或三維的粗糙度分析測量。

2 層厚測量
非接觸式，速度快，可重復性
采用非接觸式模式，Axio CSM 700可迅速測量出透明層厚度。通過測量出的數值，可以得出關于涂層表面光潔度和其它變量的信息。

次表面界面和細節
對于多層系統和半透明材料，Axio CSM 700,可以獲得表面下層的組織結構，如不同質性、孔洞、夾雜和界面。當知道中間的反射系數后，就可測得層厚和光路長度。

3 薄層分析
在顯微技術領域，50 nm到5 µm范圍的層厚正逐漸變得越來越重要（像半導體轉換電路和薄膜傳感器）。材料和基底的多樣性要求表面分析和顯微元素分析具有高靈活度。使用Axio CSM 700，可迅速獲得顯微結構成份的輪廓和層厚、輪廓的高度、結構寬度。這些操作都可直接進行，并且對樣品沒有破壞性，不需對樣品制樣，效率高。

4 高分子材料和玻璃質量分析
不僅在質量控制方面Axio CSM 700具有優勢，在高分子和玻璃行業，Axio CSM 700也同樣具有優勢。共聚焦方法可的用于對光學部件和透明部件的3D形貌分析。
使用Axio CSM 700.，在生產過程中，可進行三維的、無損的檢測，以實現對質量的控制。對于透鏡的幾何特征，如半徑，通過軟件可自動測量。可進行體積和面積的計算和對比。
在不同的位置和方向，可進行二維的粗糙度分析。在模塑的聚氨酯泡沫部件的生產中，如魚缸的過濾器、麥克風套或計算機鼠標墊，可對其氣孔大小的分布進行測量，以對模塑完的聚氨酯泡沫部件進行質量控制。實際上，泡沫部件會有一些典型的缺陷，這是由于對模塑溫度的控制不足或原材料的化學成分方面的原因造成的，從而導致表面質地的厚度和氣泡的不同。使用Axio CSM 700，可對泡沫表面進行三維形貌分析，如表面粗糙度的測量、氣泡的體積、接縫和染色，從而提高產品質量，減少不合格產品的數量。