高溫貴金屬熱電阻

電阻是金屬材料組織結構的敏感參數?在加熱或冷卻過程中?金屬內部除了晶格振動隨溫度變化而變化外?還會在某一溫度或溫度期間發生相變、晶體結構或微觀組織的變化。通過對高溫貴金屬熱電阻的連續測定?可以獲得許多有用的信息和資料?是研究金屬材料的一項重要手段和技術。在熱分析領域中?人們把在程序控制溫度下?測量物質的電學特性與溫度的關系的這種技術定義為熱電學法

〔1〕 電阻－溫度特性曲線的測量就是其中的一種主要技術?叫做熱電阻分析（TEA）。在各種各樣的測量裝置中?國外比較有代表性的是日本產金屬及合金用TER－2000系列電阻測量儀

〔2〕 使用溫度為1400℃?電壓檢測靈敏度為0?1μV?試樣尺寸為Φ20×100mm。國內

報道的如高溫電阻自動分析儀

〔3〕 工作溫度為室溫～1200℃?試樣尺寸為Φ5×70mm。幾乎所有報道的裝置?均用尺寸較大的棒狀試樣?不僅需要專門加工制作?而且電阻值很小?不利于減小誤差。對貴金屬來說采用這種樣品很不合適。為此?作者研制了適用于貴金屬絲材試樣的熱電阻分析裝置?并成功地利用現有的 DTA 裝置及其功能。研制的裝置?其綜合性能等同或優于同類裝置。

1、應用

       高溫貴金屬熱電阻適用于各種生產過程中高溫場合，廣泛應用于玻璃及陶瓷及工業鹽浴爐等測溫。

2、主要技術參數

       電氣出口：M20x1.5,NPT1/2

       精度等級：I 、 II

       防護等級：IP65

       偶絲直徑：Φ0.5

       公稱壓力：常壓